中文(简体) | 2005-10-05 | PDF 1.43 MB

中文(简体) | 2005-10-05 | PDF 1.43 MB
在射频/微波测试系统中增强测
量完整性的六项提示
兼顾性能、速度和重复能力
虽然大多数射频和微波测试系
统测量的是几种类型的器件 —放大
器、发送器和接收器 — 但每一套
系统都会面临独特的环境、要求和
挑战。问题在于当您定义任何射频
和微波测试系统时,总会遇到三项
互相影响的因素:性能、速度和重复
能力。兼顾这些因素的能力是实现
所要求测量完整性水平的一项关键
要素。
应用指南 1465-18
目次
您可在被测器件(DUT)与测
量仪器路径间的许多点得到正确兼
顾这三项因素的机会(图 1)。这篇
应用指南提供兼顾这三项因素的框
架,以及解决沿 RF 信号路径常见
问题的六项提示。
提示一是所有六项提示的基础。
其它提示针对要通盘考虑的三项主
要因素:提示二至提示五能帮助您
实现更高的性能,提示六推荐几种
改进测量速度的方法,提示三和四
能帮助您提高测量的重复能力。所
有这些提示适用于 100MHz 至 26.
5GHz 范围的信号。
图 1. 在任何测试系统体系结构中,都有通过兼
顾性能、速度和重复能力保持测量完整性的一些
机会。
提示一:性能、速度和重复能力的
优先次序 2
提示二:评审 DUT 的特性和
行为 4
提示三:理解、表征和校正 RF
信号路径 5
提示四:了解连接到仪器的
每一样东西 6
提示五:审查开关的工作特性 8
提示六:加快测量的设置和
执行 9
成就测试系统发展的未来 10
相关文献 10
附录: AN 1465-17 摘要 11
提示一:
性能、速度和重复能力的优先
次序
奠定基础
重复能力
对于任何测试系统来说,得到
一致性结果 — 不同时间进行不同
Agilent 对射频和微波测试设备
测试的结果 —是至关重要的。重复
为奠定所有六项提示的基础, “性能”的定义主要包括仪器精度、 能力并不等同于由各台仪器性能确
必须清楚了解性能、速度和重复能 测量范围和带宽。仪器精度包括幅 定的高精度级。重复能力意味着一
力在这里的确切意义。多数情况 度和频率测量的规定绝对精度。测 致性的结果,而与规定精度无关。对
下,在您对测试的要求和设备的选 量范围系指动态范围,失真,噪声电 于任何给定的仪器,重复能力可能
择中,其中的一项或两项将是占主 平和相位噪声,这些是能用于精确 会随特定的测量或模式而异,因此
导地位的因素。不管何种情况,都 表征信号电平的属性。带宽系指能 一定要查看产品规范,或询问制造
要仔细研究性能、速度和重复能力 够处理和分析的频率宽度或数据率。 商。在某些情况下,可通过能产生标
间的互动和进行权衡考虑,表 1 至
准化测量精确近似的多次平均或改
速度
表 3 对此作了归纳,以帮助处理您
进算法提高重复能力。您也能通过
测试系统速度或吞吐率决定于
的具体情况。
最小化测量设置改变,例如中心频
硬件,输入 / 输出(I/O)和软件。我
率、范围和衰减电平的设置优化重
们在这里主要针对的是硬件,有四
复能力。
项因素影响着速度:测量建立时间,
测量执行时间,数据处理时间和数
归纳三者的相互关系
据传输时间。对于射频和微波频率,
DUT的测试要求和交易量将帮
建立时间主要为变化发生时 DUT 或
助您估定性能、速度和重复能力的
测试系统的稳定时间(例如开关闭
相对重要性。在您确定了主导因素
合,功率级改变等)。
及各项要求的重要程度后,就能较
为容易地认识它们的互动和对系统
的影响。表 1、2 和 3 归纳了两种情
况下它们相互影响的含意:当主导
因素的强度是高或低时。
2
性能
表 1: 当性能为主导因素时,最重要互动来自性能和速度间
性能要求
对速度的含义
对重复能力的含义
低
可更快些:可把较少的时间花在诸如仪器校准
有可能降低:这种情况会建议采用低性能设备,
和测量平均这类任务上。
从而导致较大的不确定度,以及测试间较低的一致性。
必须更慢些:有可能要把较多时间花在诸如仪器校准、
有可能提高:高性能设备有较低的噪声本底,较少的失真产物,
路径校正和误差扣除这类任务上,以保证较高的精度。
较高的隔离等,从而得到较小的不确定度和较高的测量一致性。
高
表 2: 当速度为主导因素时,关键关系在速度和重复能力间
速度要求
对性能的含义
对重复能力的含义
低
较高的精度:可把较多时间花在诸如校准、路径校正和误差
较高的一致性:能增加平均数,采样数或扫描时间(随平均而
高
扣除等任务上。但此时有可能建议采用通常只有较少性能增
下降)。可能使用的方法有长 RMS 探测,窄视频带宽,或精密的
强特性的低价仪器。
时间增强算法。
较低的精度:对速度的要求可能导致采用低精度测量技术,
较低的一致性:只有更少时间用于平均,
包括较低的测量分辨率,较少的扫描点和较快的扫描速度。
复杂和精密的算法可能意味着更大的不确定度和更低的一致性。
表 3: 当重复能力为主导因素时,关键关系再一次在重复能力和速度间
重复能力要求
低
高
对性能的含义
对速度的含义
有可能降低:低重复能力隐含着较大的误差预算,
可能更快:当重复能力不太重要时,
因此可能采用较低性能的仪器(较低的绝对精度)。
可在改进测量一致性上花较少的时间。
必须很高:高重复能力隐含着较小的误差预算,因此可能
采用较高性能的仪器(较高的绝对精度,较小的不确定度)。
必须更慢:可能需要增加平均数,采样数或扫描时间
(随平均而下降),以减小不确定度和提高一致性。
也许不能采用其它算法(如“快 ACP 模式”)。
的仪器有高绝对精度,那么对较低
在表 1 和表 3 中,重复能力和 重复能力就有较宽的误差预算容
性能间存在着重要的下一层关系。 限。如果仪器提供一致性的结果,
这是由测量不确定度链接的间接关 就可为较低绝对精度留有较多的预
系。一些系统开发者在处理不确定 算空间。
度时建立一个“误差预算”,其大小
多项“高”要求
决定于测试要求与系统不确定度间
要满足诸如“高速、高重复能
的容限。对不确定度的二个主要贡
献者是绝对精度(仪器性能)和测 力”或“高性能、高速”这样的要求
量一致性(重复能力)。如果系统中 可能需要采用比普通设备贵得多的
重复能力和性能
1
复杂仪器。不过许多高性能仪器还
带有能加快费时工作,如平均和校
准的硬件加速器。有些仪器还包括
计算各种参数,如邻道功率(ACP)
1
的多种算法.
如果所有三项要求都为“高”,
就必须细察系统中的每一个部件 —
测试设备、开关、电缆、连接器等等。
最好的解决方案成本会很高,但它
们也可能提供其它能力和好处。
例如,某些 Agilent PSA 系列频谱分析仪包括作
为标准配置的“ACP 模式”和“快 ACP 模式”
。
快模式提供标准符合性测量的精确近似。
www.agilent.com/find/systemcomponents
3
提示二:
评审 DUT 的特性和行为
典型自动测试系统执行三项基
本任务:源,测量和开关。选用何种
信号发生器、功率计、频谱分析仪、
网络分析仪、开关矩阵和电缆取决
于 DUT 的电气和机械特点。射频和
微波频率有一些需要特别关注的基
本特性。
电气参数
DUT 的基本特性是最主要的考
虑因素:是无源和线性,还是有源和
非线性器件?无源的线性器件易于
处理,因为它们在工作带宽和任何
允许输入功率级下有固定的增益和
相移。相反,有源器件需要更仔细地
处理,因为它们有对输入功率高度
敏感的非线性工作区域,在不同电
平时会产生不同的结果。可能会在
测试系统中建议增加放大器或衰减
器,以精确控制功率级,也许还会增
加用于分路的耦合器,以验证向
DUT 施加的功率级。但您不应轻易
增加这些附件:高频时每一系统部
件都有复数值阻抗(具有相关 S- 参
数),而且每一附加连接都会产生与
DUT 有害交互的可能性。
4
避免失配: 任何连接处的阻抗失
配都会造成插入损耗,从而掠取
来自任何源或信号的功率。事实
上高频功率是极其昂贵的,而宽
频率范围的功率则更加昂贵。
提示:要使用高精密的电缆和附
件,并且要用矢量网络分析仪
(VNA)确定它们的实际阻抗,特
别是当 DUT 为有源器件时。
最小化 VSWR: 开关矩阵、连接
器、内外电缆,甚至 RF 电缆的
弯曲半径诸因素的组合都会引
发 DUT 中电压驻波比所造成的
误差。
提示: 为最小化这一误差,应使
用电压驻波比(VSWR)指标为
1.2:1 或更好的开关矩阵。
增强隔离: 如果您的测试要求同
时测量高电平和低电平信号,那
么开关矩阵的隔离指标将会影响
测量的完整性。
提示: 如果有多条通达 DUT 的
路径,应使用信号发生器和频谱
分析仪表征它们的隔离特性。若
不能这样做,则应把系统的高电
平信号和低电平信号配置和编程
到非相邻的通路,或通过不同的
开关单元。
机械特性
要仔细考虑信号用和功率(交
流和直流)用连接器的数量和类型。
这会影响到开关矩阵的大小和系统
配线的复杂程度。
提示: 使用具有足够端口数的开
关矩阵,从而一次完成系统至 DUT
的全部连接。在发生突然的功率级
变化时,将最小化等待信号稳定的
延迟,并把开关矩阵或 DUT 的损坏
机会减到最小。
提示三:
理解、表征和校正 RF 信号
路径
如果没有其它校正,产品指标
就只能延伸到仪器输入和输出连接
器处的“校准平面”
。为实现精确和
可重复的测量 — 以及得到经校正
的 DUT 结果 — 我们建议您把校准
平面尽可能地推到 DUT 处。这里有
几种实现方法,无论通路是无源还
是有源,DUT 是本地还是远地。
处理无源路径
无源器件在带宽范围内和任何
允许输入功率级下有固定的增益和
相移,但沿无源路径的每一连接都
可能存在会造成插入损耗和相移
(或延迟)的阻抗失配。在高频时,似
乎简单的无源元件将变成复杂的传
输线元件,而不再能对沿该路径的
损耗和相移作简单的代数加法。
提示: 用 VNA 测量整个连接路
径,或表征各元件的 S- 参数,再用
矢量运算对整个通路的总损耗和相
移建模。这些值保存于系统 PC 中,
可在需要时用于校正测量结果,或
用于网络分析仪,例如对滤波器和
变化的 DUT 作实时的调整 2。
校正有源路径
有源器件的性能可能随输入功
率而变。因此测量精度的改进将决
定于该器件是工作在其响应的线性
部分还是非线性部分。如果放大器
这类有源器件工作在线性区 — 正
好低于其 1dB 压缩点 — 就能在校
准和测量工作期间,对该区域中的
任何功率级作精确校正。
提示: 如果有源器件在其响应的
非线性部分工作,那么也应使用测
量时的功率级进行校准,以确保精
确的校正。如果测量在非线性模式
中的多个功率级进行,那么就要对
每一功率级校准,并保存校准结果,
以供日后使用。
提示 : 检查有源器件在超过
DUT 要求范围的频率响应。您应在
规定的功率级下测量整个通路,或
表征各接口的 S- 参数,在当时或事
后用矢量运算建立模型。
处理 DUT 距离 — 近处和远处
的 DUT
当 DUT 放在测试系统处的夹具
中,或与测试柜的距离有好几米时,
精确的校正可能是困难的。基于夹
具的测量是一项挑战,因为路径中
往往包括同轴电缆至基于微带线短
路、开路和负载的变化。
提示: 如果不能采用高质量的微
带线元件,就需要用网络分析仪测
量夹具,建模阻抗,并在测量结果中
扣除这些影响。
当 DUT 为远地时,主要问题是
长电缆中的路径衰减,以及因温度
波动和电缆弯曲造成的路径改变。
提示: 通过测量仪器和 DUT 间
的整个通路(如有可能)
,或通过测
量沿通路的各部件来表征路径衰减,
然后使用矢量运算组合它们的复数
值响应。
提示: 为简化表征和校正 RF信
号路径的过程,一些系统开发者会
尽可能少用有源器件。这样做能够
减少校准的工作量,以及减少工作
于非线性模式时因功率级变化造成
误差的机会。
为详细了解 S- 参数测量,请参看应用指南 154
“S- 参数设计”和应用指南 1287-3“把误差校正
2
用于网络分析仪测量”
。
www.agilent.com/find/systemcomponents
5
提示四:
了解连接到仪器的每一样
东西
测试设备制造商所规定的仪器
性能只到连接源和测量信号的仪器
前面板。由此出发,在仪器和 DUT
间的每一样东西都会影响仪器性能
和重复能力。在射频和微波频率及
功率级下,通常带来最坏影响的是
电缆、开关和信号调整器。
选择正确类型的电缆
在规划测试系统时,您需要确
定用什么样的电缆连接各器件,以
及规定开关矩阵内使用的电缆类型。
作为一般规则,稳定的电缆能提供
较低的插入损耗和较好的 VSWR,
从而得到较高的测量重复能力。高
频时最常用的三种电缆类型是半刚
性电缆,普通电缆和柔性电缆。
半刚性电缆
正如其名称,这些电缆不易改
变形状,因此能保证具有优异的性
能和重复能力。优质的半刚性电缆
由于制造工艺中采用MIL 标准温度
循环技术而获得更高的稳定性。在
成形工艺后的温度循环能消除会造
成日后预成形电缆变形的内部应力。
这些电缆中使用的介电材料质量也
会影响其测量性能。固态聚四氟乙
烯最为常用,但它对插入损耗有所
贡献。可延展聚四氟乙烯是目前最
好的替代材料,它提供更低的插入
3
为详细了解有关信息,请参看 Agilent 定制开关
矩阵 产品指南,出版物 5966-2961。
4
在进行这些测量时,相位重复能力是另一项须考
虑的重要指标。
6
损耗和更宽的频率范围。所有这些 避免与信号相关的问题
被关注的细节都会反映到成本上,
开关是整个系统功能性的中心,
使它的售价远高于普通电缆或柔性 它提供仪器与 DUT 间自动的信号和
电缆。
电源连接。由于大多数源信号和被
测信号都要通过开关矩阵,因此开
普通电缆
关技术规范中的任何缺点都能影响
这些电缆易于成形和变形,所 测量性能、速度和重复能力。高频时
以它的稳定性低于半刚性电缆。其 有 三 项 特 别 重 要 的 指 标 : 隔 离 、
柔性会影响到测量重复能力和长期 VSWR 和插入损耗 3。
可靠性。
柔性电缆
有时也称为“仪器级电缆”,它
们通常有好的相位稳定性和低的插
入损耗,但售价也比较高。这种电缆
需要经常维护和仔细处理,因为严
重的变形会改变其电气特性,并造
成不精确的测量结果。
最大化隔离: 信号路径间的泄漏
使其很难在有一个或多个强信号
情况下测量低功率信号(在高功
率信号和低功率信号同时通过开
关矩阵时经常出现这种情况)。
提示: 选择具有90dB或更高隔离
指标的开关。这将会降低泄漏,
并减少让信号通过物理上隔离的
开关组件的需要。
最小化 VSWR: 高 VSWR 能造
成相位误差,从而影响矢量和调
制测量的精度 4 。开关矩阵的
VSWR 直接与矩阵中所使用同轴
开关的 VSWR 相关,各开关的
VSWR 则决定于它的机械尺寸和
容限。
提示: 您能通过使用比要求带宽
短的电缆进一步最小化 VSWR。
如果因宽的带宽或机械要求不能
这样做时,最好的替代方法是通
过焊盘或耗损电缆把插入损耗加
至传输线。这就能降低感兴趣频
率范围 VSWR 引入的纹波幅度,
但代价是较高的总插入损耗。
控制插入损耗: 这在较高频率时
会成为问题,不同频率的规定值
通常以表格或公式形式给出。
提示: 插入损耗会随开关的老化
而改变,因此要查看技术规范中
的“插入损耗重复性”或“插入
损耗稳定性”,这是在产品预期
生命期结束时尚有效的数据。了
解这一最坏情况下的值能帮助您
控制误差预算。
衰减器
评估信号条件
机电和电子的设计在管理信号
电平方面提供不同等级的柔性和精
度。机电衰减器采用分立开关,一般
提供 1 或 10dB 的步进分辨率。电
子衰减器提供具有 0.1dB 或 0.25dB
分辨率的虚拟连续设置;但其所使
用的 PIN 二极管开关会产生可能使
测量结果污损的“视频泄漏”。
提示: 根据需要级联机电和电子
放大器
如果要进行精密的幅度测量, 衰减器,得到对衰减的更好控制。
或要在长电缆上发送,就可能需要
提示: 注意衰减器上使用的电镀
附加的增益。几项重要指标能帮助
材料。例如镍在高功率级时会变成
确定您的应用所适用的放大器。
非线性,从而造成互调失真。因此应
VSWR: 放大器因差的VSWR 而 代之使用更高质量的导体,如金。
正如提示三所描述的那样,
DUT 的测试要求和位置有可能确定
要把无源或有源的信号调整器插入
到信号路径中。它们也许是独立器
件,或者是做在开关矩阵之内。放大
器、衰减器和频率转换器是最常用
的信号调整器件。
声名狼籍。
提示: 您可通过把衰减器或隔离
器接到放大器输出(通过其有限
的带宽)而减轻这一问题。
互调: 在测量 DUT 带宽外的互
调失真或寄生信号时,放大器带
宽是重要的。
提示: 注意具有差的动态范围或
低于 1dB压缩点的放大器,它所
产生的互调失真足以影响存在强
基频时的谐波测量。
寄生: 开关电源产生的寄生与开
关频率相关,通常为 1 0 0 200kHz。
提示: 避免使用包含开关电源的
放大器或任何其它器件。
频率转换器
当 DUT 与测试系统相隔较远
时,可通过在长电缆中用下变换器
把信号移到较低频率范围而降低插
入损耗。
提示: 可在测试系统中用上变换
器把信号恢复至原频率,但也许有
必要通过滤波消除变换过程中产生
的多余的频率成分。
提示: 如果在进行矢量或调制测
量时用到多个信号、路径和变换,就
必须用某种形式的锁相保证精确的
结果。为此,您可把仪器和频率变换
器接到公共频率基准,然后测量各
信号相对基准信号的相位。
www.agilent.com/find/systemcomponents
7
提示五:
审查开关的工作特性
选用锁存开关,还是非锁存开关
机电开关内部使用的是锁存继
在您选择打算采用的开关矩阵 电器或非锁存继电器。多数锁存继
类型时,了解除电气性能外的开关 电器需要用 100-200 ms 直流脉冲接
其它特性是有益的,需了解的工作 通或断开继电器5。非锁存开关则需
特性有器件寿命、电源要求,以及发 要用恒定功率保持接触,通常为
24V,200mA。在一个大的开关矩阵
生故障时的安全性。
中,非锁存开关能在系统机柜中产
生相当大的热量,从而影响到系统
选用机电开关,还是电子开关
的测量性能。
机电开关中有一些运动部件和
提示: 如果您选用非锁存开关,
实际触点,因此其性能和重复能力
要检查实际温升,并要在系统机柜
会较快地变差,也只有有限的寿命。
中安装冷却装置。
相反,电子开关中没有运动部件,因
此有较长的寿命和较好的重复能力。
提示: 必须知道所选用开关在电
在实际工作中,最好的选择部份决 源故障或应急关断时的行为。为保
定于系统要求的实际开关循环数: 证最大的安全性,应选择电源恢复
要考虑每次测试的开关闭合次数, 时开关矩阵返回到已知的条件或配
每天的测试次数,以及系统的预期 置状态。非锁存开关通常有默认的
寿命等。
故障安全选择,因为它们在断电时
另一项实际考虑是所切换信号
的功率级。高功率信号切换会使许
多开关受损,并且会降低重复能力
和缩短寿命。
提示: 为防止机电开关或电子开
关过早损坏,应在接通或断开矩阵
中的任何开关前,通过编程系统仪
器减小信号功率级。
系统中开关矩阵所能拥有的一
项优点是制造商可把信号调整内置
在矩阵中。例如Agilent 的定制开关
矩阵就能配置为带有各种器件:放
大器和衰减器,滤波器和隔离器;以
处于关断状态,并且不会再次接通, 及相位和频率转换器件,如混频器、
直到由测试程序重新施加功率。锁 倍频器和分频器。这些器件由半刚
存开关也能有故障安全状态,如果 性电缆永久性地连接,并且不需要
硬件和固件能在掉电时把它们锁存 另外的外部电缆。这样就获得了结
到安全模式。
构紧凑和使用方便的单机解决方案。
5
其它提示:为最小化功率要求,有些工程师把系
统中的开关编程为以串联或小编组方式使用,但
这会造成较长的总开关时间。
8
先进特性:内装的信号调整
提示六:
加快测量的设置和执行
信号发生器
许多信号发生器都有内置的调
制和任意波形能力,因此有可能减
当 您 按“ 单 位 时 间 测 试器 件
少系统中的仪器数量,简化系统配
数”、
“单位时间测试数”
,或其它基
线和降低软件的复杂程度。
于时间的标度评定系统性能等级时,
提示: 仪器配置可能是较为复杂
测量速度决定于两项基本要素:系
和费时的任务,但您能通过事先建
统设置所需时间和测量执行所需时
立状态,把它们保存在存储器中,然
间。任何系统都有三个主要部件 —
后在编程系统时根据需要调用所保
硬件,I/O 和软件 — 它们能加快或
存的状态,就能显著缩短测试时间。
减缓这两个过程。Agilent 应用指南
如果系统需要在测试期间加载任意
1465-7“最大化系统吞吐率和优化
提示: 为得到最大利益,可有选
波形数据,与 ASCII 格式相比,二
系统部署”介绍了有关软件设计、系
择地使用自动输入量程。对于快速
进制格式的下载点数要少得多。
统I/O 和低频仪器的一些有用提示。
变化幅度的被测信号,自动量程可
作为补充材料,该提示增加了有关 功率计
能会频繁改变输入衰减器设置,从
射频 / 微波仪器和系统的新资料。
而减慢测量。但如果信号电平低,并
具有内置校准能力的功率计能
且相对稳定,那么自动量程就能因
得到最大的时间节省,因为它把校
精调各仪器
允许使用较宽跨度和 RBW 设置而
准间隔由几小时扩展到几个月。
改进信噪比及缩短测量时间。
系统中使用的任何可配置装置
提示: 数字功率计能提供宽视频
都可能成为限制测量速度的瓶颈。 带宽和快数据采样。有些型号能产
网络分析仪
最新一代射频/微波仪器 — 信号发 生每秒 1000 或更多的校正读数,从
V N A 的校准可能是费时的任
生器、功率计、频谱分析仪和网络分 而通过平均改进了测量精度和重复
务,特别是在手动连接短路和校准
析仪 — 提供能最小化瓶颈和增强 能力。
标准时。
系统性能的灵活特性和能力。
提示: Agilent 的电校准方针或
频谱分析仪
“ECal”模块可自动完成这一过程,
任何频谱分析仪需做的三项主
它通过单次连接对一至四个端口作
要调整是频率跨度、测量点数和分
更快和重复性更好的校准。这种方
辨率带宽(RBW)。
法也能缩短花在测试端口连接器和
提示: 使用最少的必要点数和尽
校准标准上的时间。
可能宽的 RBW 是减少测量时间最
容易的方法。在用当前一代频谱分
提示: 校正数据在分析仪内部进
析仪测量窄跨度时,可通过切换到 行的应用通常要快于在系统控制器
快速傅立叶变换(FFT)模式自动加 外 进 行 的 应 用 。 对 于 绝 大 多 数
速测量过程。
VNA,您可保存特定测试的校准曲
线,然后在需要时调用。注意:与一
个极宽跨度测量相比,这种方法对
一系列的窄频率跨度更为有效。
www.agilent.com/find/systemcomponents
9
成就测试系统发展的未来
相关文献
1465 系列应用指南中的最新文章
每一套测试系统都面临一组独
将
提
供助您在测试系统中成功使用
特的挑战,但在任何情况下兼顾性
能、速度和重复性的能力将会帮助 LAN、WLAN 和 USB 的信息:
您达到所要求的测量完整性水平。
LAN 在测试系统中的使用: 基本原
同时也能帮助您为测试系统正确选
理, AN 1465-9(出版号 5989择仪器、I/O 连接和软件。通过提供
1412EN)
系统就绪仪器、PC 标准 I/O 和开放
http://cp.literature.agilent.com/
litweb/pdf/5989-1412EN.pdf
软件环境,Agilent 帮助您减少不得
不做出的权衡量。通过创建互补的
LAN 在测试系统中的使用: 网络配
系统部件和持续支持发展中的标准,
置,AN 1465-10
如 LAN ,Agilent 帮助您在当前和
(出版号 5989-1413EN)
未来优化,甚至最大化系统性能。
http://cp.literature.agilent.com/
为了解加速系统开发、简化系
统集成和利用开发连通性优点的更
多方法,请访问 Agilent Open 网址
www.agilent.com/find/open。您
能在这里签约,尽早获得未来的本
系列应用指南。只需找到链接“Join
your peers simplifying testsystem
integration”。
litweb/pdf/5989-1413EN.pdf
LAN在测试系统中的使用: PC配置,
AN 1465-11(出版号5989-1415EN)
http://cp.literature.agilent.com/
litweb/pdf/5989-1415EN.pdf
USB 在测试和测量环境中的使用:
网络配置,AN 1465-12
(出版号 5989-1417EN)
http://cp.literature.agilent.com/
litweb/pdf/5989-1417EN.pdf
使用 SCPI 和直接 I/O vs. 驱动程序,
AN 1465-13(出版号5989-1414EN)
http://cp.literature.agilent.com/
litweb/pdf/5989-1414EN.pdf
LAN 在测试系统中的使用: 应用,
AN 1465-14(出版号5989-1416EN)
http://cp.literature.agilent.com/
litweb/pdf/5989-1416EN.pdf
下一代测试系统: 用 LXI 拓展视野,
AN 1465-16(出版号5989-2802EN)
http://cp.literature.agilent.com/
litweb/pdf/5989-2802EN.pdf
优化射频 / 微波测试系统的部件,
AN 1465-17(出版号5989-3321EN)
http://cp.literature.agilent.com/
litweb/pdf/5989-3321EN.pdf
10
1465 系列中的更早应用指南为
您提供助您开发高效低频测试系统的
诀窍:
测试系统设计入门(AN 1465-1),
出版号:5988-9747EN
http://cp.literature.agilent.com/
litweb/pdf/5988-9747EN.pdf
计算机 I/O 考虑(AN 1465-2),
出版号:5988-9818EN
http://cp.literature.agilent.com/
litweb/pdf/5988-9818EN.pdf
理解驱动程序和 Direct I/O (AN
1465-3)
,出版号:5989-0110EN
http://cp.literature.agilent.com/
litweb/pdf/5989-0110EN.pdf
选择您的测试系统软件体系结构
(AN 1465-4)
,
出版号:5988-9819EN
http://cp.literature.agilent.com/
litweb/pdf/5988-9819EN.pdf
选择您的测试系统硬件体系结构和
仪器(AN 1465-5),
出版号:5988-9820EN
http://cp.literature.agilent.com/
litweb/pdf/5988-9820EN.pdf
理解机架和仪器互连的影响 (A N
1465-6)
,出版号:5988-9821EN
http://cp.literature.agilent.com/
litweb/pdf/5988-9821EN.pdf
最大化系统吞吐率和优化调度(AN
1465-7),出版号:5988-9822EN
http://cp.literature.agilent.com/
litweb/pdf/5988-9822EN
操作维护(AN 1465-8),
出版号:5988-9823EN
http://cp.literature.agilent.com/
litweb/pdf/5988-9823EN.pdf
附录
应用指南 1465-17 摘要
优化射频 / 微波测试系统的部件
把这些要求变成最佳选择
应在心中记住这些基本属性和
制约,下一步是把这些要求变成硬
件、I/O 和软件的有效组合。
在创建射频 / 微波测试系统时,
硬件
与您 DUT 相关的技术和商业因素将
有三种可用的硬件体系结构:
帮助您选择最适宜的系统硬件、I/O
“传统模拟仪器”
,
“下一代模块式仪
和软件的组合。所有这三个领域的
当前和未来发展也将影响您的选择。 器”和“当代矢量仪器”。传统模拟
仪器能实现更快的系统开发,因为
评审某些基本考虑
它们会最先达到新的性能水平,许
多系统开发者也较为熟悉。下一代
技术因素包括 DUT 的共同属性
模块式仪器提供极高的灵活性,并
和特殊属性。重要的共同属性包括
有望实现更高的系统生命期,但当
器件的复杂程度,产品所处的生命
前需要较长的开发时间和较高的软
期阶段,以及制造流程的性质。特殊
件成本。当代矢量仪器提供最强的
的电气和机械属性包括要求频率范
功能性、通用性和精度的组合。当所
围,带宽,分辨率,端口数或测试点
测试器中包括演进中的通信标准时,
数,以及这两者随器件组装的变化。
通过固件升级扩展能力是它的一项
预算和时间限是关键性的商业 重要优点。
因素。展望未来时要考虑 DUT 及其
测试系统的预期寿命。对于射频/微
波测试系统来说,未来对 DUT 有两
大类特殊要求:长寿命的 DUT,如
航天和国防系统;短寿命的DUT,如
快速演进的商业无线产品。当测试
系统包含长寿命硬件、I/O 和软件
时,要有能力能力满足一种长寿命
DUT,或多种短寿命 DUT(通过系
统重用)改进的需要。
I/O
折衷。图形ADE 的电路图方法能使
工程师易于掌握。仪器通信已取到
重大进展,直接 I/O 和特定厂商命
令也有了通向工业标准命令集和仪
器驱动程序之路。
把它们融合到一起
由于 PC 行业稳步推进着 LAN
的性能(以及承诺后向兼容性),测
如果您正在构建新的测试系统,
我们建议您考虑采用矢量仪器、
试设备在继续支持 GPIB 的同时,
会 LAN 基 I/O、图形式编程和仪器驱
更多使用面向未来的 LAN 接口。
动程序。这一组合已被证明完全适
应未来的系统,能容易地以很低的
软件和通信
费用在近期修改,或在未来维护和
您所选的应用开发环境(ADE) 更新。如果您需要要遵从 NxTest,
及仪器通信方法的组合确定了在开 则可用前面推荐的矢量仪器取代模
发时间、软件重用和系统性能间的 块式仪器。
www.agilent.com/find/systemcomponents
11
www.agilent.com
请通过Internet、电话、传真得到测试和测量帮助。
在线帮助:www.agilent.com/find/assist
热线电话:800-810-0189
安捷伦科技有限公司总部
欢迎订阅免费的
安捷伦电子期刊
www.agilent.com/find/emailupdates
得到您所选择的产品和应用的最新信息。
地址:北京市朝阳区建国路乙 118 号
招商局中心 4 号楼京汇大厦 16 层
电话:800-810-0189
(010) 65647888
传真:(010) 65647666
邮编:100022
上海分公司
地址:上海市西藏中路 268 号
来福士广场办公楼 7 层
电话:(021) 23017688
传真:(021) 63403229
邮编:200001
Agilent 开放连通性
Agilent简化连接和编程测试系统的过程,以帮助工
程师设计、验证和制造电子产品。Agilent的众多系
统就绪仪器,开放工业软件,PC 标准 I/O 和全球支
持,将加速测试系统的开发。要了解更详细的情况,
请访问:www.agilent.com/find/openconnect。
广州分公司
地址:广州市天河北路 233 号
中信广场 66 层 07-08 室
电话:(020) 86685500
传真:(020) 86695074
邮编:510613
成都分公司
地址:成都市下南大街 2 号
天府绿洲大厦 0908-0912 室
电话:(028) 86165500
传真:(028) 86165501
邮编:610012
深圳办事处
地址:深圳市深南东路 5002 号
信兴广场地王商业中心
4912-4915 室
电话:(0755) 82465500
传真:(0755) 82460880
邮编:518008
西安办事处
地址:西安市科技二路 68 号
西安软件园 A106 室
电话:(029) 87669811, 87669812
传真:(029) 87668710
邮编:710075
安捷伦科技香港有限公司
地址:香港太古城英皇道 1111 号
太古城中心 1 座 24 楼
电话:(852) 31977777
传真:(852) 25069256
Email: [email protected]
本文中的产品指标和说明可不经通知而更改
Agilent Technologies, Inc. 2005
出版号: 5989-3322CHCN
2005 年 10 月 印于北京
Was this manual useful for you? yes no
Thank you for your participation!

* Your assessment is very important for improving the work of artificial intelligence, which forms the content of this project

Download PDF

advertisement